由于其独特的物理特性，纳米结构材料现在处于材料科学的前沿。可以使用几种不同的技术来表征它们的微观特征，但每种技术都有其优点和缺点。在欧洲物理杂志特刊上发表的一项新研究中，布达佩斯ELTEEötvösLoránd大学的JenőGubicza表明，一种名为X射线衍射线轮廓分析(XLPA)的间接方法适用于分析纳米结构材料，但其应用和解释需要特别小心才能获得可靠的结论。
X射线衍射如何用于可靠地研究纳米结构材料
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